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電界放出型走査電子顕微鏡・集束イオンビーム（FIB-SEM） Crossbeam Family

カールツァイス / カールツァイス
ID:K02890
ZEISS CrossBeam ZEISS Crossbeam LaserFIB

GEMINIカラム高分解イメージングとハイスループットで3D解析、ナノスケールの微細加工

ZEISS Crossbeam

  • 実績あるGEMINIカラムを搭載し、高分解能と高コントラストを実現
  • FIB加工中のリアルタイム高分解能SEM観察が可能
  • アモルファスダメージを最低限に抑えつつTEMサンプル用超薄切片が作成可能
  • フェムト秒レーザーにより大型試料を超高速で材料加工（LaserFIB）
  • Atlas 5により、迅速で正確なトモグラフィー解析

仕様

シリーズ Crossbeam
希望小売価格
（税抜）		 お問い合わせ

ZEISS CrossBeam ZEISS Crossbeam LaserFIB
  • ※価格及び製品仕様は予告なく変更されることがあります。
  • ※価格に消費税は含まれておりません。
  • ※日本国内への販売に限らせていただきます。また、製品によっては、当社から直接販売ができない地域がございます。
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  • ※表示金額以外に運送費、荷造費、搬入・据付費、組立設置費などを別途加算させていただくことがございます。
  • ※製品本来の使用目的に合わせてご利用ください。
  • ※製品によっては理化学実験の専門的な知識を必要とするものがあります。

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