電子顕微鏡受託撮影サービス（SEM / TEM） ID: J00637

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試料作製及び受託撮影サービス

カテゴリ

サービスについて

概要

オスミウム・プラズマコーターによる電子顕微鏡用観察試料作製技術を応用することにより、新たな受託サービス「電子顕微鏡受託撮影サービス」を提供しています。試料作製～観察・撮影まで、高品質のサービスをご提供しています。また、お手持ちの電子顕微鏡をお使いの方のために、試料作製受託のみも承ります。是非、ご相談ください。あらゆる試料を観察・分析し、皆様の研究を”ミクロの世界より支援します。”

特長

透過、走査電子顕微鏡、及び試料作製関連の周辺装置を備え、高分子材料・生体組織やウイルス等の含水物はもちろん、金属・非金属など、様々な試料の受託解析・観察を”スピーディー・ロープライス・ハイクオリティー”で行っております。

サービス内容

材料試料
・ナノオーダーの粉体の粒子測定
・セラミックの内部構造解析及び元素分析による新素材研究
・高分子薄膜の膜厚測定
・IC基板の断面観察による検査
・ナノチューブの形態・構造解析
・ガラスコーティング膜の断面構造解析
・ネガティブ染色法によるリポソームの多層構造の観察
生物試料
・培養組織の観察による再生組織の確認
・澱粉粒の状態比較観察による機能性食品証明
・歯の超薄切片による結晶解析の観察
主要設備
透過電子顕微鏡（TEM）（fig.1）（fig.2）、電解放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）（fig.3）、走査電子顕微鏡（SEM）、X線検出器、オスミウム・プラズマコーター（fig.4）、真空電子染色装置（fig.5）、T-ブチル乾燥装置、イオンスパッター、真空蒸着装置、ウルトラミクロトーム（fig.6）、臨界点乾燥装置、瞬間凍結装置、写真画像関連装置